OLED、Mini-LED、Micro-LEDなどの次世代ディスプレイでは、高精細化や画素の微細化に伴い、これまで以上に微細な輝度ムラや色度差、サブピクセルごとの発光特性のばらつきが、ディスプレイの表示品質に影響するようになっています。
特に低階調領域や微細画素では、一般的な輝度・色度測定だけでは原因の特定が難しく、画素・サブピクセル単位での詳細な評価や、分光スペクトルによる解析が重要になります。
本資料では、OLED、Mini-LED、Micro-LEDの開発・試作・量産工程で課題となる表示ムラや発光特性の評価・解析事例を紹介しています。
階調ムラ、サブピクセルの個体差や面内ムラ、ピクセル間の漏れ光、残像（焼付き）など、ディスプレイ品質に関わる代表的な課題について、分光測定を用いた具体的な評価方法を掲載しています。
例えば、低階調時に発生する面内の不均一については、一般的な2次元輝度計による輝度・色度評価だけでなく、発生箇所の分光スペクトルを確認することで、より詳細な解析が可能になります。
また、サブピクセルを高倍率で分光測定することで、個々の発光特性や画素内の分布を解析し、表示ムラや発光異常の原因解析に活用できます。資料ではOLEDだけでなく、Mini-LED・Micro-LEDのサブピクセル評価事例も紹介しています。
さらに、OLEDにおけるピクセル間の漏れ光・混色の解析や、残像の経時変化、生産ラインを想定した高速・高精度測定についても紹介しています。漏れ光については、波長ごとの画像や分光スペクトルを取得することで、輝度表示だけでは確認しにくい混色状態を評価できます。
生産ライン向けの測定事例では、低階調領域における測定時間短縮についても掲載しています。

特に以下のような課題をお持ちの方におすすめの資料です。
– 低階調時に発生する輝度ムラ・色ムラを詳しく評価したい
– OLED／Mini-LED／Micro-LEDのサブピクセルごとの発光特性を比較したい
– 輝度・色度だけでは判別できない差異を分光スペクトルから解析したい
– 微細なサブピクセル内の発光ムラを高倍率で評価したい
– OLEDのピクセル間で発生する漏れ光や混色を解析したい
– OLEDの残像・焼付きの経時変化を定量的に評価したい
– 生産ラインで使用できる高精度かつ高速な測定方法を検討している

掲載内容
– 階調ムラ評価
– サブピクセル個体差評価
– サブピクセル面内ムラ評価
– 混色（ピクセル間の漏れ光）評価
– 残像（焼付き）評価
– 生産ラインでの高精度・高速測定
– 有機ELディスプレイ関連規格

OLEDをはじめ、Mini-LED・Micro-LEDなどの高精細ディスプレイの開発・評価に携わる技術者の方に、表示品質の評価方法や不良解析を検討する際の参考資料としてご活用いただけます。

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